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矽行面向40nm制程BFI設(shè)備獲得客戶訂單,國產(chǎn)半導(dǎo)體前道檢測再進階

2025年05月05日

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近日,天準(zhǔn)科技(股票代碼:688003.SH)參股的蘇州矽行半導(dǎo)體技術(shù)有限公司(下文簡稱“矽行半導(dǎo)體”)宣布,其自主研發(fā)的明場納米圖形晶圓缺陷檢測設(shè)備TB1500已收到客戶正式訂單,即將交付客戶工廠使用。


作為半導(dǎo)體制造前道工藝的核心檢測裝備,明場晶圓缺陷檢測設(shè)備長期受制于海外技術(shù)壟斷;此次面向40nm工藝制程的TB1500獲得客戶正式訂單,標(biāo)志著我國在前道微觀缺陷檢測裝備領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了技術(shù)節(jié)點的重大突破,為構(gòu)建自主可控的產(chǎn)業(yè)生態(tài)奠定關(guān)鍵基石。



天準(zhǔn)科技現(xiàn)已形成覆蓋全工藝節(jié)點的明場缺陷檢測產(chǎn)品矩陣,包含TB1000/TB1100(65-180nm)、TB1500(55/40nm)與TB2000(28/14nm)三大系列;精準(zhǔn)匹配不同技術(shù)節(jié)點,滿足邏輯芯片、存儲芯片等多元化制程的缺陷檢測需求。基于自主研發(fā)+海外并購+生態(tài)投資的發(fā)展戰(zhàn)略閉環(huán),公司已相繼攻克晶圓微觀缺陷檢測、套刻精度量測、關(guān)鍵尺寸量測及掩膜量測等核心技術(shù),形成貫穿晶圓制造、掩膜生產(chǎn)到封裝測試的全流程量檢測方案集群。


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未來,天準(zhǔn)科技將依托先進光學(xué)傳感技術(shù)與AI驅(qū)動的缺陷識別算法,向更高精度的半導(dǎo)體量檢測挑戰(zhàn)發(fā)起沖鋒,重新定義芯片制造的“質(zhì)量防線,加速中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的自主可控進程


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