掩膜關鍵尺寸(CD)測量系統(tǒng)

面向先進掩膜制造的高精度光學量測平臺

Spector是專為半導體掩膜制造中的關鍵尺?(CriticalDimension, CD)測量打造的?端光學量測系統(tǒng)，?持?14英?掩膜的?精度測量，全?滿??65nm?藝節(jié)點的掩膜檢測需求。 

系統(tǒng)可選配紫外光源，并對光學器件進?專?優(yōu)化，確保關鍵尺?測量重復性優(yōu)于1.5nm，滿??穩(wěn)定性和??致性的量測要求。

Spector 采?全封閉式設計，?持SMIF傳輸接?和全?動化搬運流程，滿?潔凈環(huán)境下的?動化?產需求。 同時，系統(tǒng)內置標準 SECS/GEM 通訊協(xié)議，便于?縫集成?Fab?動化系統(tǒng)，助?客戶實現(xiàn)?度?動化，智能化的掩膜制造流程。