在3C產(chǎn)品尺寸測(cè)量領(lǐng)域，普遍存在精度要求嚴(yán)苛、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)復(fù)雜、檢測(cè)效率要求高等行業(yè)共性難題。天準(zhǔn)深度融合光學(xué)、機(jī)械、電子等領(lǐng)域的多項(xiàng)創(chuàng)新專利技術(shù)，成功實(shí)現(xiàn)了微米級(jí)精度與高速檢測(cè)相統(tǒng)一的高性能測(cè)量指標(biāo)。